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天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A

簡要描述↟▩▩·☁:

天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A 是天瑞集多年的經驗↟·☁,專門研發用於鍍層行業的一款儀器↟·☁,可全自動軟體操作↟·☁,可多點測試↟·☁,由軟體控制儀器的測試點↟·☁,以及移動平臺↟↟✘。是一款功能強大的儀器↟·☁,配上專門為其開發的軟體↟·☁,在鍍層行業中可謂大展身手↟↟✘。

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  天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A效能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點↟·☁,重複定位精度小於0.005mm
採用高度定位鐳射↟·☁,可自動定位測試高度
定位鐳射確定定位光斑↟·☁,確保測試點與光斑對齊
滑鼠可控制移動平臺↟·☁,滑鼠點選的位置就是被測點
高解析度探頭使分析結果更加精準
良好的射線遮蔽作用
測試口高度敏感性感測器保護
  天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A技術指標
型號↟▩▩·☁:Thick 800A
元素分析範圍從硫(S)到鈾(U)↟↟✘。 
同時可以分析30種以上元素↟·☁,五層鍍層↟↟✘。
分析檢出限可達2ppm↟·☁,薄可測試0.005μm↟↟✘。
分析含量一般為ppm到99.9% ↟↟✘。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型↟↟✘。
相互獨立的基體效應校正模型↟↟✘。
多變數非線性回收程式
多次測量重複性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應範圍為15℃30℃↟↟✘。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源↟↟✘。 
外觀尺寸↟▩▩·☁: 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸↟▩▩·☁:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量↟▩▩·☁:90kg
標準配置
開放式樣品腔↟↟✘。
精密二維移動樣品平臺↟·☁,探測器和X光管上下可動↟·☁,實現三維移動↟↟✘。
雙鐳射定位裝置↟↟✘。
鉛玻璃遮蔽罩↟↟✘。 
Si-Pin探測器↟↟✘。
訊號檢測電子電路↟↟✘。
高低壓電源↟↟✘。
X光管↟↟✘。
高度感測器
保護感測器
計算機及噴墨印表機
應用領域
↟·☁,鉑↟·☁,銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定↟↟✘。
主要用於貴金屬加工和飾加工行業;銀行↟·☁,飾銷售和檢測機構;電鍍行業↟↟✘。

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