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XRF元素分析儀

簡要描述·↟:

XRF元素分析儀Thick800A透過分析熒光的強度來計算出金屬電鍍層厚度的測試裝置▩✘。電鍍層測厚儀透過計算機自動操作✘◕╃✘,自動檢測算出電鍍層厚度✘◕╃✘,操作方便▩✘。 提供質量穩定價效比高的電鍍層測厚儀Thick800A,鍍層測厚儀用於分析電鍍鋅層厚度✘◕╃✘,電鍍銀層厚度✘◕╃✘,電鍍鉻層厚度✘◕╃✘,電鍍鋅層厚度✘◕╃✘,電鍍鎳層厚度✘◕╃✘,金屬電鍍測厚儀比較好的品牌是天瑞儀器✘◕╃✘,三大主流品牌之一▩✘。

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XRF元素分析儀Thick800A產品介紹·↟:

是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器▩✘。主要應用於·↟:金屬鍍層的厚度測量₪✘▩、電鍍液和鍍層含量的測定; ₪✘▩、鉑₪✘▩、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測▩✘。

XRF元素分析儀Thick800A效能優勢·↟:

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的影象識別 
輕鬆實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器✘◕╃✘,自動切換
雙重保護措施✘◕╃✘,實現無縫防撞
採用大面積高解析度探測器✘◕╃✘,有效降低檢出限✘◕╃✘,提高測試精度
全自動智慧控制方式✘◕╃✘,一鍵式操作!
開機自動退出自檢₪✘▩、復位 
開蓋自動退出樣品臺✘◕╃✘,升起Z軸測試平臺✘◕╃✘,方便放樣 
關蓋推進樣品臺✘◕╃✘,下降Z軸測試平臺並自動完成對焦 
直接點選全景或區域性景影象選取測試點 
點選軟體介面測試按鈕✘◕╃✘,自動完成測試並顯示測試結果

XRF元素分析儀Thick800A技術指標·↟:

分析元素範圍·↟:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素·↟:多24個元素✘◕╃✘,多達五層鍍層
檢出限·↟:可達2ppm✘◕╃✘,薄可測試0.005μm
分析含量·↟:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度·↟:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重複性·↟:可達0.1%
穩定性·↟:可達0.1%
SDD探測器·↟:解析度低135eV
採用的微孔準直技術✘◕╃✘,小孔徑達0.1mm✘◕╃✘,小光斑達0.1mm
樣品觀察·↟:配備全景和區域性兩個工業高畫質攝像頭
準直器·↟:0.3×0.05mm₪✘▩、Ф0.1mm₪✘▩、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸·↟:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸·↟:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸·↟:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度·↟:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重複定位精度 ·↟:小於0.1um
操作環境溼度·↟:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃

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